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光學(xué)精密工程·封面 | 芯片表面微小缺陷目標(biāo)檢測(cè)
▍導(dǎo)讀和研究現(xiàn)狀
隨著集成電路制造技術(shù)的快速發(fā)展,在晶圓級(jí)封裝等先進(jìn)封裝中,封裝尺寸越來(lái)越小,缺陷檢測(cè)分辨力要求已經(jīng)由微米級(jí)提高到亞微米級(jí)。研究亞微米級(jí)二維和三維缺陷檢測(cè)及復(fù)雜缺陷識(shí)別分類方法,能夠?yàn)檠邪l(fā)具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的半導(dǎo)體芯片封裝缺陷視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)提供關(guān)鍵技術(shù)支撐,進(jìn)而為解決半導(dǎo)體封測(cè)行業(yè)面臨的“卡脖子問(wèn)題”以及提升器件的良率奠定技術(shù)基礎(chǔ)。
針對(duì)芯片表面圖案復(fù)雜多樣,復(fù)雜背景下芯片細(xì)微缺陷圖像對(duì)比度差,影響成像質(zhì)量的問(wèn)題,我們團(tuán)隊(duì)研究了面向芯片封裝微觀裂紋等缺陷檢測(cè)的超分辨算法。針對(duì)芯片表面蝕刻尺度小、形貌復(fù)雜而圖案尺度大等難題,團(tuán)隊(duì)研究了多尺度圖形模式識(shí)別算法和多尺寸缺陷快速識(shí)別分類技術(shù)。針對(duì)芯片表面臟污、焊球缺陷、芯片異位等鏡檢環(huán)節(jié)缺陷能提供的數(shù)據(jù)集有限,而神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)需要大量數(shù)據(jù)訓(xùn)練優(yōu)化等現(xiàn)實(shí)問(wèn)題,團(tuán)隊(duì)研究了對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)虛擬缺陷圖像生成技術(shù),實(shí)現(xiàn)了小樣本類別數(shù)據(jù)集增廣,克服了數(shù)據(jù)集中類別間樣本數(shù)據(jù)量不均衡問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了類別間樣本數(shù)據(jù)量的均衡化處理。
合肥工業(yè)大學(xué)夏豪杰教授團(tuán)隊(duì)的張進(jìn)等在《光學(xué) 精密工程》(EI、Scopus,中文核心期刊,《儀器儀表領(lǐng)域高質(zhì)量科技期刊分級(jí)目錄》和《光學(xué)和光學(xué)工程領(lǐng)域高質(zhì)量科技期刊分級(jí)目錄》“T1級(jí)”期刊)上發(fā)表了題為“面向小目標(biāo)測(cè)量的通道注意力網(wǎng)絡(luò)與系統(tǒng)設(shè)計(jì)”的封面文章。

2023年第6期封面
▍關(guān)鍵技術(shù)突破或解決問(wèn)題描述
1. 面向微小目標(biāo)高頻特征重建的通道注意力網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)
為了解決微小目標(biāo)的高頻特征分量重建問(wèn)題,作者設(shè)計(jì)并搭建了如圖1所示的圖像超分辨率重建網(wǎng)絡(luò)。該網(wǎng)絡(luò)采用了端到端的學(xué)習(xí)方法,并將局部殘差和全局殘差相結(jié)合,以防止訓(xùn)練過(guò)程中的梯度爆炸和梯度消失。網(wǎng)絡(luò)中通過(guò)跳躍連接的方式使信息在網(wǎng)絡(luò)各層間流動(dòng),加強(qiáng)了網(wǎng)絡(luò)各層之間的聯(lián)系和對(duì)信息的充分利用,使得網(wǎng)絡(luò)能夠更好地利用低層的信息來(lái)指導(dǎo)高層的學(xué)習(xí)。作者對(duì)提取目標(biāo)圖像的不同頻率特征進(jìn)行了分析,在模型的底層特征提取模塊中添加通道注意力機(jī)制,通過(guò)自適應(yīng)地調(diào)整不同通道之間的權(quán)重,使得模型能夠更好地捕捉到輸入特征中的重要信息,以提高對(duì)微小目標(biāo)的識(shí)別能力,通過(guò)與其它算法的對(duì)比實(shí)驗(yàn),驗(yàn)證了所提方法的優(yōu)勢(shì)。

圖1:網(wǎng)絡(luò)模型結(jié)構(gòu)圖
2. 微小目標(biāo)識(shí)別與測(cè)量系統(tǒng)研究與設(shè)計(jì)
為了對(duì)微小目標(biāo)的檢測(cè)與測(cè)量問(wèn)題進(jìn)行研究,作者設(shè)計(jì)了一個(gè)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)(如圖2所示)。實(shí)驗(yàn)中使用USAF1951分辨率板作為實(shí)驗(yàn)對(duì)象,通過(guò)CCD相機(jī)獲取目標(biāo)圖像并進(jìn)行畸變校正后對(duì)圖像中感興趣的幾何圖元進(jìn)行識(shí)別和測(cè)量。

圖2:實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)圖
3.微小目標(biāo)測(cè)量精度提升方法研究
由于重建前后USAF1951分辨率板中目標(biāo)在高頻特征體現(xiàn)上有所差異(如圖3所示),計(jì)算機(jī)處理結(jié)果并不相同。作者通過(guò)對(duì)重建前后同一目標(biāo)進(jìn)行測(cè)量,對(duì)比了提出算法對(duì)目標(biāo)測(cè)量精度的影響。作者分別從垂直和水平方向?qū)χ亟ㄇ昂蟮木€寬尺寸進(jìn)行了測(cè)量,并計(jì)算了相應(yīng)的誤差。誤差曲線如圖4所示,重建后的測(cè)量精度得到了有效提升,其中水平方向平均提高了24.1%,垂直方向平均提高了79.1%。

圖3:重建前后效果對(duì)比

圖4:線寬測(cè)量相對(duì)誤差曲線
研究前景和未來(lái)計(jì)劃
該研究將圖像超分辨率重建與微小目標(biāo)識(shí)別與測(cè)量相結(jié)合,突破了原有硬件平臺(tái)的分辨率限制,并且可以根據(jù)目標(biāo)特征,有針對(duì)性地設(shè)計(jì)圖像超分辨率重建網(wǎng)絡(luò),實(shí)現(xiàn)更加精細(xì)的圖像重建。在原有硬件平臺(tái)基礎(chǔ)上,有效提高了目標(biāo)測(cè)量精度。該研究結(jié)果為半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域中芯片的缺陷識(shí)別和測(cè)量提供了一種新的研究方法,可以幫助我們更好地利用圖像數(shù)據(jù),提高圖像處理的效率和準(zhǔn)確性,具有潛在的應(yīng)用價(jià)值。
團(tuán)隊(duì)負(fù)責(zé)人簡(jiǎn)介
夏豪杰,教授,博士生導(dǎo)師,合肥工業(yè)大學(xué)儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院院長(zhǎng)。主要從事精度理論及光電超精密測(cè)量技術(shù)及儀器等領(lǐng)域的研究工作。近5年來(lái)主持國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃項(xiàng)目、國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目、安徽省重大科技攻關(guān)項(xiàng)目等科研項(xiàng)目10余項(xiàng),在國(guó)外內(nèi)期刊發(fā)表學(xué)術(shù)論文40余篇,授權(quán)發(fā)明專利22項(xiàng),近年來(lái)先后獲得中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)科學(xué)技術(shù)獎(jiǎng)一等獎(jiǎng)、安徽省技術(shù)發(fā)明獎(jiǎng)二等獎(jiǎng)等獎(jiǎng)項(xiàng)。在教學(xué)方面,主持教育部新工科項(xiàng)目、安徽省專業(yè)綜合改革試點(diǎn)、品牌專業(yè)建設(shè)等省級(jí)質(zhì)量工程項(xiàng)目5項(xiàng)目,近年來(lái)先后獲得省級(jí)教學(xué)成果一等獎(jiǎng)、特等獎(jiǎng)3項(xiàng)。
團(tuán)隊(duì)簡(jiǎn)介
合肥工業(yè)大學(xué)夏豪杰教授團(tuán)隊(duì)依托“費(fèi)業(yè)泰精密工程中心”,在繼續(xù)深入研究精度理論的基礎(chǔ)上,圍繞超精密測(cè)量、復(fù)雜外形測(cè)量與大尺寸動(dòng)態(tài)目標(biāo)測(cè)量等應(yīng)用需求,研究光電精密測(cè)量技術(shù)及儀器。團(tuán)隊(duì)承擔(dān)過(guò)多項(xiàng)國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃、國(guó)家重大科學(xué)儀器開(kāi)發(fā)專項(xiàng)、國(guó)家自然科學(xué)基金儀器專項(xiàng)和裝備預(yù)研專項(xiàng)等,研發(fā)了納米光柵干涉儀、并聯(lián)掃描工作臺(tái)、超分辨相機(jī)、光學(xué)微納掃描測(cè)頭、超精密氣浮軸承等微納測(cè)控部件,研發(fā)了超分辨視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)、視覺(jué)跟蹤掃描測(cè)量系統(tǒng)、三維微納掃描測(cè)量系統(tǒng)、飛秒激光形貌測(cè)量與超分辨成像等系統(tǒng),研究成果應(yīng)用于“天問(wèn)一號(hào)”等國(guó)家重大工程以及集成電路缺陷檢測(cè)。

論文信息
傅揚(yáng)偉,張進(jìn),孫珍惜等.面向小目標(biāo)測(cè)量的通道注意力網(wǎng)絡(luò)與系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J].光學(xué)精密工程,2023,31(06):962-973. DOI: 10.37188/OPE.20233106.0962.
https://ope.lightpublishing.cn/thesisDetails?columnId=35735897
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